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系统概述：
IGBT作为目前主流的电力半导体开关器件，已广泛应用于电力电子相关行业，一台轻巧便携的测试仪就显得尤为重要。便携式IGBT测试仪，是一种全新的功率半导体器件参数测试仪器，可用于额定电流在2-100A的IGBT和MOS管主要静态参数的测试。仪器与配套电脑连接使用，通过友好人机界面操作，便于各测试参数的组合、数据结果以表格形式呈现，具有使用便捷、测试精度高等优点，适合于各测试器件使用现场及产线维护场合使用。
测试范围：
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栅极 发射极 |
Vges：1-40V 分辨率0.1V Iges：0.1-10uA 分辨率0.01uA Vce：0V |
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集电极 发射极 |
Vces：100-3000V 分辨率10V Ices：100uA-5mA 分辨率10uA |
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栅极发射极阈值电压 |
Vge(th)：1-10V 分辨率 0.1V |
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集电极/发射极 饱和电压 |
Vce(sat)：0.2-5V 分辨率0.01V Ice：10-100A 分辨率1A |
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二极管 压降 |
VF：0.01-5V 分辨率0.01V IF：1-100A 分辨率r 1A Vge：0V Vces：100 |
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二极管反向最大可恢复直流电压 |
Vces：100-3000V 分辨率10V Ices：100uA-5mA 分辨率10uA |
