美国Gaithersburg的NIST研究小组表示，温控热沉使得LED测试方法与现今普通照明中的相兼容。他们正在开发中的一个新的测试流程有助于 LED固态照明的产业化。NIST科学家Yuqin Zong和Yoshi Ohno表示，通过提供一个直接与传统灯具测量方法相似的LED亮度和色彩的测量，这项新的方法将帮助LED制造商拉近与照明产业的距离。现在，LED制造商和照明产业在计量方法上截然相反，该常用方法的缺点是阻碍了半导体照明的商业化。
LED 发光的主要难度在于它的工作温度，更明确地说是半导体中的结温。为了确保器件的快速量产，LED制造商使用了一个基于高速光脉冲来测试，以检测LED器件的色彩和亮度。然而，20ms的脉冲不能使芯片充分升温到“正常”工作时所需的结温，高达60°C。由于LED输出与温度有关，实际的工作特性会因制造商不同测试条件下所呈现的而异。
与LED制造商的不一样，泛照明产业倾向于使用一种稳态直流的方法来测量，而那些LED芯片的使用者也会喜欢这种方式。
在2008 Expert Symposium on Advances in Photometry and Colorimetry中，Ohno和Zong在发表的论文中提到，“我们开发了一种暂新而实用的方法，测量出高功率LED的任何特定结温。”新的测试法基于一个温度受控的热沉，利用它调节LED芯片至任何结温，这种方法比用直流测试LED输出的方法更好。这些热沉既便宜，使用又广泛，该小组表示此法适用于各种高功率LED，包括串联在一起的LED阵列。
迄今为止，Ohno和Zong在结温25°C的1W荧白光LED中应用了这种直流法，并辅以20ms的光脉冲测试。
经过最初的努力证明，使用新的直流法和常用的脉冲测试法几乎没有什么差别，现在我们正进行下一步实验使得直流法更加有效，初期的效果表明若采用该方法测试的话，有助于消弭LED业者与泛照明产业之间的差距。以此为基础，固态光源一定能优化它们的热管理系统，并生产更高效的灯具。
图解：这种新型测试仪器，它能满足高功率LED制造商和泛照明产业的需求，
使各自获取数据以及比较后的结果；图中操作人员是来自NIST的Yuqin Zong
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