会上，来自桂林电子科技大学机电工程学院院长、教授杨道国分享了“LED灯具寿命预测的快速评价方法”主题报告。
报告中指出，LED与传统的光源相比有许多优势，如照明效率高、节能、寿命长，因此越来越引起人们的关注。然而，在目前的产品中，70%以上的输入点能量转换成了热能。
由于接合温度高，LED产品存在许多问题，比如量子效率低，光谱移位，色移，甚至寿命缩短。LED产品的热可靠性也令人担忧。在过去的十年间，尽管对LED的封装和模块进行了很多研究，但是测量和预测系统级的LED灯的寿命仍然是一个挑战。
为获得高功率LED灯的寿命，杨道国教授在报告中，提出了基于子系统隔离法的LED灯的分级加载压力加速测试，包括减低压力加速衰变测试和增加压力加速衰变测试。整个灯被分为三个子系统，即LED光源、驱动和机械设备。只对LED光源进行分级加载压力加速测试，将其放入热处理室中，与时效炉中的其它子系统相连。
因此，对于LED光源，可以实现最高可以施加的压力水平。同时，在分级加载压力加速测试之前，对LED灯模块进行基于子系统隔离法的加速衰退测试，以实现理想的热应力极限，在此范围内LED灯模块的衰退机制是一致的。
而且，杨道国教授基于分级加载压力加速测试分析了LED光源的可靠性，并且采用了失效树和Monte Carlo算法推测整个LED灯的可靠性。
结果表明，LED光引擎的TSL能够通过HADT程序轻松地观察；也提出的分级加载压力加速测试能够快速有效地使LED灯模块的性能产生退化；SUSADT光性能的提高要好于SDSADT，这是由于SDSADT能够有效地降低LED灯的光参数的增长；而且，伴随着增长的荷载应力，LED模块的色移比光衰更灵敏。
最后，还提出了一套方法在快速评定LED灯方面具有很大的潜力。
