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【SSLCHINA 2016】爱思强Jens Voigt:蓝宝石衬底上使用31x4”规格的Aixtron AIX R6 MOCVD设备大规模生产InGaN基蓝光LED

放大字体  缩小字体 发布日期:2016-11-29 来源:中国半导体照明网浏览次数:553
   LED通用照明进入到规模性爆发的关键时期,进一步提高LED的发光效率和降低LED的制备成本仍然非常重要。目前,在外延方法、能量转换效率、热能管理、生产设备和工艺过程控制方面,LED仍有大幅提升空间。材料与装备技术对于LED性价比的提升至关重要,也是LED照明市场获得发展的关键推动力。
 
  在今年一年一度的半导体照明国际盛会--第十三届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA2016)期间。在 “材料与装备技术分会”聚拢了该领域一大批国际专家和企业家,畅谈产业核心材料及重大装备新进展,聚焦国产化装备及材料新进展。分会主持由中科院半导体研究所研究员、中科院半导体照明研发中心副主任王军喜和佐治亚理工大学教授Russell Dupuis共同担任。
  会上,来自德国爱思强股份有限公司Jens Voigt,介绍了在干蚀刻图案蓝宝石衬底(DPSS)上使用31x4”规格的Aixtron AIX R6 MOCVD设备大规模生产InGaN基蓝光LED。
 
  Jens Voigt介绍该系统在连续运行的模式下操作,首先对波长、光输出功率(LOP)和静电放电(ESD)量进行检测,确保LED运行和生产的稳定性之后,再开始对喷头进行清洗。相比以前运行后清洗喷头的操作模式,现在的吞吐量可提升超过10%。
 
  在量子阱生长期间,波长产量高度依赖于温度的重现性。爱思强已经采用LayTec和TEQualizer功能的内部TTC,开发了一个动态的多区域顶部温度控制。TEQualizer功能基于400nm测温开环晶片表面的温度控制,使用Laytec的Inside P400。结合晶圆和运行对比,优化晶片载体可提高温度稳定性,我们表示晶片均匀S = 1.1nm,晶片对比均匀S = 1.1nm,运行对比再现性s< 1nm,从而使得在6 nm bins时总晶片面积波长产量>90%。
 
  罗布的稳定性证明在3%的窗口内没有明显的运行对比趋势。此外,SIMS和TXRF测量确认无遗留杂质以及新杂质的引入。
 
  Jens Voigt表示,以ESD最佳产量为目标,通过在缓冲层设计实验,确定绝对缓冲层的生长温度窗口,特别是依据Inside P400读数,考虑缺陷相关的形态和相关实验。通过这种方法我们已经证明了在连续运行模式下ESD率>90%,可用于批量生产InGaN蓝光LED。
 
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