培训时间：2017年11月21日星期二 下午
培训地点：东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
主办单位：
广东金鉴检测科技有限公司、全国LED产业产教融合(东莞)职业教育集团
讲座内容简介：
过去，当出现LED烧电极问题，质量争议最多的是芯片和电源。芯片厂说是电源过流过压导致，照明厂说是芯片质量不合格导致，但责任归属是需要证据的，在金鉴出来之前，业内缺乏LED芯片失效分析的实验室，也就是说，没有一家能够找出芯片质量问题的检测机构。没有科学的检测数据支持，照明厂和电源厂只能吃哑巴亏，造成很多冤案错案。
在今年，金鉴检测引进了千万级的双束聚焦离子束（FIB-SEM）显微镜，发现很多烧电极的案件与芯片关联很大，开创了不少新的芯片级失效分析模型。于此，金鉴检测方方博士开展此次讲座，旨在分享案例和科普芯片级失效案例的判定方法。
客户群体：
LED芯片厂、LED照明厂、LED电源厂、LED使用单位和采购贸易商
主讲人：
方方，剑桥大学博士，广东省青联委员，广东金鉴检测科技有限公司总经理。方博士长期致力于LED材料检测技术分析研究，擅长从查找材料缺陷角度改善LED产品质量。方博士在金鉴任职的多年时间里，累积了大量LED产业失效案例大数据，在此大数据的基础上推出LED体检技术研究，帮助客户在来料、研发、生产中找出产品常见失效点，预防最终产品损失的产生，由常规的“客户投诉--失效分析--改善”模式转换为“发现隐患--改善”模式，大大降低企业经验成本。其中金鉴的LED灯具体检业务，从材料角度入手，快速评测原材料和工艺，鉴定LED灯具的质量，约为LED企业节约80%以上的检验检测时间，节省检验认证费用达60%以上。方博士目前拥有20多项专利，40多篇LED检测原创案例文章，每推出一篇文章都会被LED界各大媒体转载，超过十万名读者阅读与收藏，不定期推出LED检测相关培训，帮助厂家规避品质风险，促使LED行业健康发展。
活动安排
培训时间：11 月21日星期二下午
2:00-3:30 讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极，芯片与电源谁是罪魁祸首！》
3:30-3:50 茶歇
3:50-5:00 讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极，芯片与电源谁是罪魁祸首！》
活动报名
职教集团联系人：黄银清
联系电话：18122931209
电子邮件： CSAhn@china-led.net
活动负责人：邱岳
联系电话：18816786100
电子邮件：2853308304@qq.com
联系请扫我
讲座报名登记方式：
用微信扫一扫识别图中二维码，添加金鉴检测邱岳为好友，报名登记。
讲座地址
地址：东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
交通指引：
自驾：东莞市横沥镇职教城东莞理工学校（导航：职教城东莞理工学校）
附近公交：（职教城）6路（水边工业区---西城区） 817路（汽车东站---桥头车站）、 815路（东莞职教---东莞东火车站）
