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讲座:剑桥大学博士讲解如何科学分析LED芯片失效

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-11-15 来源:中国半导体照明网浏览次数:399
  培训时间:2017年11月21日星期二  下午
 
  培训地点:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
  主办单位:
 
  广东金鉴检测科技有限公司、全国LED产业产教融合(东莞)职业教育集团
 
  讲座内容简介:
 
  过去,当出现LED烧电极问题,质量争议最多的是芯片和电源。芯片厂说是电源过流过压导致,照明厂说是芯片质量不合格导致,但责任归属是需要证据的,在金鉴出来之前,业内缺乏LED芯片失效分析的实验室,也就是说,没有一家能够找出芯片质量问题的检测机构。没有科学的检测数据支持,照明厂和电源厂只能吃哑巴亏,造成很多冤案错案。
 
  在今年,金鉴检测引进了千万级的双束聚焦离子束(FIB-SEM)显微镜,发现很多烧电极的案件与芯片关联很大,开创了不少新的芯片级失效分析模型。于此,金鉴检测方方博士开展此次讲座,旨在分享案例和科普芯片级失效案例的判定方法。
 
  客户群体:
 
  LED芯片厂、LED照明厂、LED电源厂、LED使用单位和采购贸易商
 
  主讲人:
  方方,剑桥大学博士,广东省青联委员,广东金鉴检测科技有限公司总经理。方博士长期致力于LED材料检测技术分析研究,擅长从查找材料缺陷角度改善LED产品质量。方博士在金鉴任职的多年时间里,累积了大量LED产业失效案例大数据,在此大数据的基础上推出LED体检技术研究,帮助客户在来料、研发、生产中找出产品常见失效点,预防最终产品损失的产生,由常规的“客户投诉--失效分析--改善”模式转换为“发现隐患--改善”模式,大大降低企业经验成本。其中金鉴的LED灯具体检业务,从材料角度入手,快速评测原材料和工艺,鉴定LED灯具的质量,约为LED企业节约80%以上的检验检测时间,节省检验认证费用达60%以上。方博士目前拥有20多项专利,40多篇LED检测原创案例文章,每推出一篇文章都会被LED界各大媒体转载,超过十万名读者阅读与收藏,不定期推出LED检测相关培训,帮助厂家规避品质风险,促使LED行业健康发展。
 
  活动安排
 
  培训时间:11 月21日星期二下午
 
  2:00-3:30  讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极,芯片与电源谁是罪魁祸首!》
 
  3:30-3:50   茶歇
 
  3:50-5:00   讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极,芯片与电源谁是罪魁祸首!》
 
  活动报名
 
  职教集团联系人:黄银清
 
  联系电话:18122931209
 
  电子邮件: CSAhn@china-led.net
 
  活动负责人:邱岳
 
  联系电话:18816786100
 
  电子邮件:2853308304@qq.com
  联系请扫我
 
  讲座报名登记方式:
 
  用微信扫一扫识别图中二维码,添加金鉴检测邱岳为好友,报名登记。
 
  讲座地址
  地址:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
 
  交通指引:
 
  自驾:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校(导航:职教城东莞理工学校)
 
  附近公交:(职教城)6路(水边工业区---西城区) 817路(汽车东站---桥头车站)、 815路(东莞职教---东莞东火车站)
 
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