培训时间:2017年11月21日星期二 下午
培训地点:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
主办单位:
广东金鉴检测科技有限公司、全国LED产业产教融合(东莞)职业教育集团
讲座内容简介:
过去,当出现LED烧电极问题,质量争议最多的是芯片和电源。芯片厂说是电源过流过压导致,照明厂说是芯片质量不合格导致,但责任归属是需要证据的,在金鉴出来之前,业内缺乏LED芯片失效分析的实验室,也就是说,没有一家能够找出芯片质量问题的检测机构。没有科学的检测数据支持,照明厂和电源厂只能吃哑巴亏,造成很多冤案错案。
在今年,金鉴检测引进了千万级的双束聚焦离子束(FIB-SEM)显微镜,发现很多烧电极的案件与芯片关联很大,开创了不少新的芯片级失效分析模型。于此,金鉴检测方方博士开展此次讲座,旨在分享案例和科普芯片级失效案例的判定方法。
客户群体:
LED芯片厂、LED照明厂、LED电源厂、LED使用单位和采购贸易商
主讲人:
方方,剑桥大学博士,广东省青联委员,广东金鉴检测科技有限公司总经理。方博士长期致力于LED材料检测技术分析研究,擅长从查找材料缺陷角度改善LED产品质量。方博士在金鉴任职的多年时间里,累积了大量LED产业失效案例大数据,在此大数据的基础上推出LED体检技术研究,帮助客户在来料、研发、生产中找出产品常见失效点,预防最终产品损失的产生,由常规的“客户投诉--失效分析--改善”模式转换为“发现隐患--改善”模式,大大降低企业经验成本。其中金鉴的LED灯具体检业务,从材料角度入手,快速评测原材料和工艺,鉴定LED灯具的质量,约为LED企业节约80%以上的检验检测时间,节省检验认证费用达60%以上。方博士目前拥有20多项专利,40多篇LED检测原创案例文章,每推出一篇文章都会被LED界各大媒体转载,超过十万名读者阅读与收藏,不定期推出LED检测相关培训,帮助厂家规避品质风险,促使LED行业健康发展。
活动安排
培训时间:11 月21日星期二下午
2:00-3:30 讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极,芯片与电源谁是罪魁祸首!》
3:30-3:50 茶歇
3:50-5:00 讲座培训《如何科学分析LED芯片失效--LED烧电极,芯片与电源谁是罪魁祸首!》
活动报名
职教集团联系人:黄银清
联系电话:18122931209
电子邮件: CSAhn@china-led.net
活动负责人:邱岳
联系电话:18816786100
电子邮件:2853308304@qq.com
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讲座报名登记方式:
用微信扫一扫识别图中二维码,添加金鉴检测邱岳为好友,报名登记。
讲座地址
地址:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校综合楼一楼报告厅
交通指引:
自驾:东莞市横沥镇职教城东莞理工学校(导航:职教城东莞理工学校)
附近公交:(职教城)6路(水边工业区---西城区) 817路(汽车东站---桥头车站)、 815路(东莞职教---东莞东火车站)