2018年10月23日-25日，第十五届中国国际半导体照明论坛（SSLCHINA 2018）暨2018国际第三代半导体论坛（IFWS 2018）在深圳会展中心盛大召开。24日，“Micro-LED与其他新型显示技术”分会聚集了国内外知名专家和企业代表，共同探讨了Micro-LED等新型显示技术前沿进展。
本届论坛由国家半导体照明工程研发及产业联盟（CSA）、第三代半导体产业技术创新战略联盟（CASA）、深圳市龙华区人民政府主办，国家科学技术部高新技术发展及产业化司、国家科学技术部国际合作司、国家工业与信息化部原材料工业司、国家节能中心、深圳市科技创新委员会和张家港高新技术产业开发区特别支持，深圳市龙华区经济促进局、深圳市龙华区科技创新局、深圳第三代半导体研究院、北京麦肯桥新材料生产力促进中心有限公司承办。
“Micro-LED与其他新型显示技术分会”作为论坛重要分会之一，今年继续设定为“主题日”活动。分会得到了爱思强、德豪润达、国星光电、晶科电子的支持协办。会上，来自厦门大学电子科学系教授、福建省半导体照明工程技术研究中心副主任吕毅军分享了《基于显微高光谱成像技术的发光器件/阵列表面光热特性分布测试》研究报告。
吕毅军现任厦门大学电子科学系教授、博导，福建省半导体照明工程技术研究中心副主任。2000年厦门大学物理系凝聚态物理专业博士毕业。主要从事半导体材料及器件检测表征、半导体照明技术开发、仪器研制。作为厦门大学代表参与国家“半导体照明标准工作组”标准制定研究工作，参与了多项国家标准的研究与制定工作。先后主持和承担了多项国家863专项、科技部国际合作项目、福建省重点科技项目。已在国内外重要学术刊物上发表五十几篇学术论文，获得10项国家发明专利，获福建省科技进步奖一等奖1次，二等奖3次。
他在报告中指出，显微高光谱成像技术结合高光谱和显微技术，获得探测目标的二维几何空间及一维光谱信息的数据立方。同时具有高空间分辨率和高光谱分辨率的优点。是进行微小发光器件/阵列表面光谱探测的理想工具。我们基于显微高光谱开发了发光器件/阵列表面光热二维分布测试技术。
卤钨灯与小积分球组成标准辐亮度光源用于显微高光谱成像系统辐亮度光谱校正。我们测试了OLED、MicroLED各像素点的辐亮度光谱，进一步计算得到OLED、MicroLED表面亮度、色度分布。
另外，根据发光光谱质心波长随温度变化的线性关系，利用显微高光谱技术测量LED表面二维温度分布。质心波长-温度线性关系二维温度函数矩阵通过电压或电流脉冲信号校正。根据该矩阵可获得工作条件下LED表面各点的二维温度分布。显微高光谱光热二维分布测试技术不仅可获得微小器件表面亮度、色度二维分布，同时其温度分布空间分辨率大大高于热像仪。【根据会议资料整理，如有出入敬请谅解！】
