2019年11月26日上午，“可靠性与热管理技术” 分会如期召开。本届分会由山西中科潞安紫外光电科技有限公司协办。新加坡南洋理工大学副教授DU Hejun，华中科技大学能源与动力工程学院院长、中欧清洁与可再生能源学院中方院长罗小兵，北京工业大学教授郭伟玲，德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL，中国科学院半导体研究所马占红，香港科技大学赵惠珊，半导体照明联合创新国家重点实验室(常州基地)研发工程师陈威等来自中外的强势力量联袂带来精彩报告。
研究采用了多种加速测试的方法确定器件的寿命，其中包括温度、湿度、偏差测试（THB）等。一些测试中重要的参数都会被记录下来。同时失效分析和失效模式都会跟实验记录做对比。比较常见的失效原因是电腐蚀，其一般常出现在低成本器件中，因为通常这些设备都缺乏有效的电路板组装清理工艺。同时研究也发现了金属薄膜电容对于高温高湿都非常敏感，这些器件通常都是由于采用了塑料封装。
实验结果表明尽管以上两种LED驱动在设计、产品质量和失效模式都不相同，但是在THB测试环节，其两种LED的驱动失效的寿命时间并没有很大的区别。
（内容根据现场资料整理，如有出入敬请谅解）
