美国NAURA-Akrion首席技术官Ismail I. KASHKOUSH:下一代半导体器件外延制备前期的衬底清理技术
美国Transphorm高级副总裁YifengWU:击穿电压超过650V同时结温超过150°C的氮化镓功率器件
德国ALLOS Semiconductors首席技术官Atsushi NISHIKAWA分享了《通过高品质硅基氮化镓外延以实现无碳掺杂的高隔离性和高动态表...
加拿大多伦多大学教授吴伟东分享了《用于增强型GaN功率晶体管的智能门极驱动芯片》研究报告。吴伟东,多伦多大学电子与计算机...
日本福井大学教授Masaaki KUZUHARA:基于半绝缘氮化镓衬底生长的高击穿电压氮化镓HEMT器件
英诺赛科研发中心副总裁David C. ZHOU:200mm 40V-650V E型硅基氮化镓材料功率器件技术:从器件、封装、到系统
2019年11月25-27日,第十六届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA 2019)暨2019国际第三代半导体论坛(IFWS 2019)在深圳会展中...
中国科学技术大学孙海定和龙世兵课题组和中国科学院宁波材料所郭炜和叶继春课题组在高衬底斜切角(4度)蓝宝石衬底上成功外延...